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日本日置HIOKI 直流電壓計DM7276/7275
  • 日本日置HIOKI 直流電壓計DM7276/7275
  • 日本日置HIOKI 直流電壓計DM7276/7275搭載了考慮到電壓趨勢、統(tǒng)計顯示等必須功能和與各測量畫面聯動的比較器、BIN功能等各種使用環(huán)境的接口。而且,可以進行適合生產現場的自定義顯示,可以放心的作為現場適應能力強的標準源來使用。
日本日置HIOKI 電阻計RM3542
  • 日本日置HIOKI 電阻計RM3542
  • 日本日置HIOKI 電阻計RM3542可用于集成電路片電感器和EMC對應零件的低能耗電阻測量 ,可用于制造工程中手動的取樣檢查。
日本日置電阻計RM3543
  • 日本日置電阻計RM3543
  • 日本日置HIOKI 電阻計RM3543能夠以±0.16%的高精度、0.01μΩ的高分辨率※測量0.1mΩ低分流電阻等的直流電阻。(※將條件設置為10mΩ量程,測量速度SLOW,平均16次時)
日本日置HIOKI 微電阻計RM3544
  • 日本日置HIOKI 微電阻計RM3544
  • 日本日置HIOKI 微電阻計RM3544是使用4端子法來測量低電阻。根據銅線等溫度系數,能夠在室溫情況下將變化了的實測值換算成標準溫度的電阻值,適用于進行繞組線的電阻測量。
日本日置無線數據記錄儀LR8410-30
馬達/諧波測試分析儀
  • 馬達/諧波測試分析儀
  • 馬達/諧波測試分析儀3194 *多可達6個輸入通道,用于分析逆變器馬達和高次諧波! ?3194高次諧波分析*多達3000次 ?適合用于分析和評估逆變器馬達的情況以及家用電器的諧波。 ?另外,若安裝選件9603-01單元,儀器可直接測量在評估逆變器馬達情況時必須測量的扭矩和轉速。
日置電池測試儀
  • 日置電池測試儀
  • 日置電池測試儀3555 立即測定電池劣化情況:小型二次電池用 ?通過對電池的內電阻和內電壓的測量 ?以合格(pass),警告(warning)及不合格(fail)三段指示 ?使本系列產品能夠立即得到電池狀態(tài)的結果
日置微電阻計
  • 日置微電阻計
  • 日置微電阻計3540 提供可選手動測試或系統(tǒng)應用測試 ?4端子方法測量mΩ電阻(快速100ms響應) ?比較器功能*多存儲7組表格 ?溫度補償功能,測量溫度并根據銅來計算20℃以下的對應值。
日置微電阻計
  • 日置微電阻計
  • 日置微電阻計3541 寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測試的電阻計 ?廣范圍測量 *低0.1μΩ(20.00mΩ),*高110MΩ ?快速采樣,*快可達0.6ms (*根據設定條件的不同,會有差異) ?補正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進行溫度補正功能 ?運用4端子測量技術,測試線接觸電阻可忽略不計 ?具備統(tǒng)計、演算功能。若再另配選件的9670,可達到印字功能。
日置微電阻計 RM 3542
  • 日置微電阻計 RM 3542
  • 日置微電阻計RM3542 ?實現了自動化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度 ?雙重檢查功能保證準確接觸,實現可靠性測試 ?可用于集成電路片電感器和EMC對應零件的低能耗電阻測量 ?可用于制造工程中手動的取樣檢查
日置微電阻計
  • 日置微電阻計
  • 日置微電阻計RM3543 用于測試超低或低并聯電阻的電阻計 ?自動化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 ?優(yōu)越的反復測量精度 ?提供高性能的接觸檢查功能,比較器功能和數據輸出功能 ?直觀的用戶接口,高度抗干擾性,樶實用與自動一體化
日置電容測試儀
  • 日置電容測試儀
  • 日置電容測試儀3506 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ?反復測量精度更高,樶適合生產線 ?校正維修功能,減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測量導線的過長引起的阻抗變化,阻抗補正功能 ?比測儀的設定值和測定值的同步顯示 ?2ms的高速測量;1kHz,1MHz 測量 ?根據BIN的測定區(qū)分容量 ?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能
日置電容測試儀
  • 日置電容測試儀
  • 日置電容測試儀3505 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ?反復測量精度更高,樶適合生產線 ?校正維修功能,減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測量導線的過長引起的阻抗變化,阻抗補正功能 ?比測儀的設定值和測定值的同步顯示 ?2ms的高速測量;1kHz,1MHz 測量 ?根據BIN的測定區(qū)分容量 ?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能
日置LCR測試儀
  • 日置LCR測試儀
  • 日置LCR測試儀3532-50 搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀 測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位**度自由調整 可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來
日置LCR測試儀
  • 日置LCR測試儀
  • 日置LCR測試儀3535 高速LCR儀,采樣率可高至120MHz 100kHz~120MHz的寬頻帶 高速LCR測試(6ms/采樣) 拆卸式前置放大器可選擇 為比較標準元件提供補償的“負載補償功能
電池測試儀
  • 電池測試儀
  • 日本日置電池測試儀BT3563 可直接測量高達300V的電壓(BT3563) 用于檢查高電壓電池組/電池單元的生產線 大型(低電阻)電池單元檢查 多種接口可用于高速自動化產線中

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